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Diagnosis of phosphorus monolayer doping in silicon based on nanowire electrical characterisation 1-gen-2018 Duffy, Ray; Ricchio, Alessio; Murphy, Ruaidhrí; Maxwell, Graeme; Murphy, Richard; Piaszenski, Guido; Petkov, Nikolay; Hydes, Alan; O'Connell, Dan; Lyons, Colin; Kennedy, Noel; Sheehan, Brendan; Schmidt, Michael; Crupi, Felice; Holmes, Justin D.; Hurley, Paul K.; Connolly, James; Hatem, Chris; Long, Brenda
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