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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Low-frequency noise assessment of border traps in Al2O3 capped DRAM peripheral MOSFETs 1-gen-2014 Simoen, E; Federico, A; Aoulaiche, M; Ritzenthaler, R; Schram, T; Arimura, H; Cho, M; Kauerauf, T; Groeseneken, G; Horiguchi, N; Thean, A; Crupi, Felice; Spessot, A; Caillat, C; Fazan, P; Na, H. J.; Son, Y; Noh, Kb
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