Metodo e dispositivo interferometrico speckle a doppia focalizzazione

Il trovato riguarda un nuovo tipo di interferometro speckle basato su un principio operativo totalmente innovativo: la doppia focalizzazione. Al contrario di un interferometro speckle con fascio di riferimento esterno, un interferometro speckle a doppia focalizzazione può essere implementato in un dispositivo molto più compatto che può essere semplicemente montato su una videocamera al posto dell’obiettivo. La telecamera speckle interferometrica così ottenuta non ha bisogno di alcun fascio di riferimento esterno e costituisce un dispositivo totalmente portatile, facilmente interfacciabile con un notebook, attraverso il bus IEEE 1394, qualora si utilizzi un CCD (o CMOS) FireWire. Il bilanciamento dei cammini ottici consente inoltre l’uso di sorgenti a bassa coerenza come quelle fornite dai laser a diodo, attualmente molto diffusi sul mercato poiché estremamente compatti ed economici rispetto ai laser tradizionali. Tale interferometro è sensibile alla medesima componente di spostamento rilevata dagli interferometri che utilizzano un fascio di riferimento esterno, che è quella lungo la bisettrice dell’angolo formato dalle direzioni di illuminazione e di osservazione, come nell’interferometria olografica. Facendo uso dell’hardware appropriato è possibile implementare in tale dispositivo le tecniche di phase-shifting, ormai largamente utilizzate per condurre misure interferometriche. L’uso dell’interferometro è principalmente rivolto al campo dei controlli non distruttivi in cui fornisce migliori risultati di un interferometro a doppia immagine. Esso può essere utilizzato per rilevare la presenza di difetti di scollamento tra skin ed honeycomb nei laminati in materiale composito. Un’altra possibilità di applicazione dell’interferometro riguarda il monitoraggio della propagazione di difetti su componenti meccanici. L’interferometro a doppia focalizzazione può inoltre essere utilizzato direttamente in situ nell’analisi di affreschi e mosaici al fine di rivelare la presenza di microfessurazioni, distacchi dal supporto murale e crepe, o nel campo delle opere architettoniche per rivelare la presenza di distacchi di intonaco. In tale campo il confronto tra lo stato iniziale (non deformato) dell’oggetto e quello finale potrebbe essere fatto inducendo un limitato stress per mezzo di riscaldamento o eccitazione acustica. Non è infine da escludere l’uso dell’interferometro per lo studio di fenomeni di vibrazione qualora l’oggetto in esame venga posizionato davanti ad uno schermo fisso.