The present paper presents the useful capabilities of laser diodes, which at present represent a very popular type of coherent light source. The authors propose a simple and straightforward procedure for determining the phase in interferometric measurements by exploiting the small wavelength variations (few nanometers) induced by the variation of the supply voltage of the diode. The proposed procedure was developed and applied utilizing two type of interferometers. The first is a Michelson interferometer using two spherical wavefronts which directly interfere on the CCD of the camera, and it was used to identify the optimal operating conditions for the application of the procedure. The second is a speckle interferometer based on a extremely simplified configuration, originally proposed for carrying out experiments in the field of NDT, but which, in the present case, was used for carrying out accurate quantitative evaluation of the displacement fields by adopting the proposed procedure.

Il lavoro presenta le interessante potenzialità offerte dai diodi laser, dispositivi oggi particolarmente diffusi come sorgente di luce coerente. In particolare, sfruttando le piccole variazioni di lunghezza d'onda (pochi nanometri) causate dalla variazione della tensione di alimentazione, è stato possibile proporre una procedura semplice e veloce per la determinazione della fase nell'ambito delle misure interferometriche. La procedura è stata sviluppata e applicata utilizzando due interferometri. Il primo, basato sulla classica configurazione di Michelson, utilizza due fasci sferici ed è stato utilizzato per ricercare le condizioni operative ottimali per l'applicazione della procedura. Il secondo, invece, è un interferometro speckle che adotta una configurazione particolarmente semplificata, originariamente proposta per misure semi-quantitative nel campo dei controlli non distruttivi, ma per il quale ne sono state dimostrate le possibilità operative nella valutazioni accurata dei campi di spostamento.

Possibilità offerte dall'utilizzo di un laser a diodo nell'interferometria speckle a variazione di fase

Bruno L.
;
Poggialini A.
2011-01-01

Abstract

The present paper presents the useful capabilities of laser diodes, which at present represent a very popular type of coherent light source. The authors propose a simple and straightforward procedure for determining the phase in interferometric measurements by exploiting the small wavelength variations (few nanometers) induced by the variation of the supply voltage of the diode. The proposed procedure was developed and applied utilizing two type of interferometers. The first is a Michelson interferometer using two spherical wavefronts which directly interfere on the CCD of the camera, and it was used to identify the optimal operating conditions for the application of the procedure. The second is a speckle interferometer based on a extremely simplified configuration, originally proposed for carrying out experiments in the field of NDT, but which, in the present case, was used for carrying out accurate quantitative evaluation of the displacement fields by adopting the proposed procedure.
2011
9788895272856
Il lavoro presenta le interessante potenzialità offerte dai diodi laser, dispositivi oggi particolarmente diffusi come sorgente di luce coerente. In particolare, sfruttando le piccole variazioni di lunghezza d'onda (pochi nanometri) causate dalla variazione della tensione di alimentazione, è stato possibile proporre una procedura semplice e veloce per la determinazione della fase nell'ambito delle misure interferometriche. La procedura è stata sviluppata e applicata utilizzando due interferometri. Il primo, basato sulla classica configurazione di Michelson, utilizza due fasci sferici ed è stato utilizzato per ricercare le condizioni operative ottimali per l'applicazione della procedura. Il secondo, invece, è un interferometro speckle che adotta una configurazione particolarmente semplificata, originariamente proposta per misure semi-quantitative nel campo dei controlli non distruttivi, ma per il quale ne sono state dimostrate le possibilità operative nella valutazioni accurata dei campi di spostamento.
Phase-shifting
Laser diode
Speckle interferometry
Diodo laser
Interferometria speckle
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.11770/277342
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