SINGLE-CRYSTAL SYNCHROTRON RADIATION X-RAY DIFFRACTION STUDY OF B AND Ga SILICALITES COMPARED TO A PURELY SILICEOUS MFI:A DISCUSSION OF THE HETEROATOM DISTRIBUTION / L., Palin; C., Lamberti; A., Kvick; Testa, Flaviano; R., Aiello; M., Milanesio; D., Viterbo. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. B, CONDENSED MATTER, MATERIALS, SURFACES, INTERFACES & BIOPHYSICAL. - ISSN 1520-6106. - 107(2003), pp. 4034-4042.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
Titolo: | SINGLE-CRYSTAL SYNCHROTRON RADIATION X-RAY DIFFRACTION STUDY OF B AND Ga SILICALITES COMPARED TO A PURELY SILICEOUS MFI:A DISCUSSION OF THE HETEROATOM DISTRIBUTION |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2003 |
Rivista: | |
Citazione: | SINGLE-CRYSTAL SYNCHROTRON RADIATION X-RAY DIFFRACTION STUDY OF B AND Ga SILICALITES COMPARED TO A PURELY SILICEOUS MFI:A DISCUSSION OF THE HETEROATOM DISTRIBUTION / L., Palin; C., Lamberti; A., Kvick; Testa, Flaviano; R., Aiello; M., Milanesio; D., Viterbo. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. B, CONDENSED MATTER, MATERIALS, SURFACES, INTERFACES & BIOPHYSICAL. - ISSN 1520-6106. - 107(2003), pp. 4034-4042. |
Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11770/126083 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.