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EnglishStructure analysis of Boron-silicalite and of a “defect-free” MFI-silicalite by synchrotron radiation single crystal X-ray diffraction / Milanesio, M.; Viterbo, D.; Palin, L.; Marra, G. L.; Lamberti, C.; Aiello, R.; Testa, Flaviano. - 142(2002), pp. 1891-1891.
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| Titolo: | Structure analysis of Boron-silicalite and of a “defect-free” MFI-silicalite by synchrotron radiation single crystal X-ray diffraction |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2002 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11770/138384 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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