CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishStructure analysis of Boron-silicalite and of a “defect-free” MFI-silicalite by synchrotron radiation single crystal X-ray diffraction / Milanesio, M.; Viterbo, D.; Palin, L.; Marra, G. L.; Lamberti, C.; Aiello, R.; Testa, Flaviano. - 142(2002), pp. 1891-1891.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
| Titolo: | Structure analysis of Boron-silicalite and of a “defect-free” MFI-silicalite by synchrotron radiation single crystal X-ray diffraction |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2002 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11770/138384 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Copyright © 2020