Measurement of recombination lifetime profiles in epilayers using a conductivity modulation technique / Spirito, P; Cocorullo, Giuseppe. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 32:9(1985), pp. 1708-1713.
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Titolo: | Measurement of recombination lifetime profiles in epilayers using a conductivity modulation technique |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1985 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11770/142504 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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