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EnglishWe present the first full experimental characterization of a single-qubit device. This method uses a Pauli Process Tomography at the output of the device and needs only a single entangled state at the input, which works as all possible input states in quantum parallel. The method can be easily extended to any n-qubits processing device.
Pauli tomography: complete characterization of a single qubit device / A., Mazzei; Ricci, Marco; F., DE MARTINI; G. M., D'Ariano. - In: FORTSCHRITTE DER PHYSIK. - ISSN 0015-8208. - 51, 342(2003).
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| Titolo: | Pauli tomography: complete characterization of a single qubit device |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2003 |
| Rivista: | |
| Citazione: | Pauli tomography: complete characterization of a single qubit device / A., Mazzei; Ricci, Marco; F., DE MARTINI; G. M., D'Ariano. - In: FORTSCHRITTE DER PHYSIK. - ISSN 0015-8208. - 51, 342(2003). |
| Abstract: | We present the first full experimental characterization of a single-qubit device. This method uses a Pauli Process Tomography at the output of the device and needs only a single entangled state at the input, which works as all possible input states in quantum parallel. The method can be easily extended to any n-qubits processing device. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11770/149504 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
http://hdl.handle.net/20.500.11770/149504
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