We present the first full experimental characterization of a single-qubit device. This method uses a Pauli Process Tomography at the output of the device and needs only a single entangled state at the input, which works as all possible input states in quantum parallel. The method can be easily extended to any n-qubits processing device.

Pauli tomography: complete characterization of a single qubit device / A., Mazzei; Ricci, Marco; F., DE MARTINI; G. M., D'Ariano. - In: FORTSCHRITTE DER PHYSIK. - ISSN 0015-8208. - 51, 342(2003).

Pauli tomography: complete characterization of a single qubit device

RICCI, MARCO;
2003

Abstract

We present the first full experimental characterization of a single-qubit device. This method uses a Pauli Process Tomography at the output of the device and needs only a single entangled state at the input, which works as all possible input states in quantum parallel. The method can be easily extended to any n-qubits processing device.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/20.500.11770/149504
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