Wafer Level Statistical Evaluation of the Proton Radiation Hardness of a High-k Dielectric/Metal Gate 45 nm Bulk CMOS Technology

	Anno
	
				2012
			
	Codice ISBN
	
				978-160768353-7
			
	Appare nelle tipologie:
	
				4.1 Contributo in Atti di convegno

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.11770/167347

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