Superior Reliability and Reduced Time-Dependent Variability in High-Mobility SiGe Channel pMOSFETs for VLSI Logic Applications

	Anno
	
				2012
			
	Codice ISBN
	
				978-146730146-6
			
	Appare nelle tipologie:
	
				4.1 Contributo in Atti di convegno

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.11770/177666

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