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EnglishPERCIVAL: possible applications in X-ray micro-tomography / Pinaroli, G.; Lautizi, G.; Donato, S.; Stebel, L.; Cautero, G.; Giuressi, D.; Gregori, I.; Zilio, S. Dal; Sergo, R.; Scarcia, M.; Cudin, I.; Wunderer, C. B.; Correa, J.; Marras, A.; Aplin, S.; Boitrelle, B.; Orsini, F.; Goettlicher, P.; Kuhn, M.; Lange, S.; Niemann, M.; Shevyakov, I.; Zimmer, M.; Guerrini, N.; Marsh, B.; Sedgwick, I.; Greer, A.; Nicholls, T.; Pedersen, U. K.; Tartoni, N.; Hyun, H.; Kim, K.; Rah, S.; Graafsma, H.; Menk, R. H.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 15:02(2020), pp. C02007-C02007.
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| Titolo: | PERCIVAL: possible applications in X-ray micro-tomography |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2020 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11770/298350 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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