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Understanding and Optimization of Hot-Carrier Reliability in Germanium-on-Silicon pMOSFETs
2009-01-01 Maji, D; Crupi, Felice; Amat, E; Simoen, E; De Jaeger, B; Brunco, Dp; Manoj, Cr; Rao, Vr; Magnone, P; Giusi, G; Pace, Calogero; Pantisano, L; Mitard, J; Rodriguez, R; Nafria, M.
Understanding the Potential and Limitations of Tunnel FETs for Low-Voltage Analog/Mixed-Signal Circuits
2017-01-01 Settino, F; Lanuzza, Marco; Strangio, S; Crupi, Felice; Palestri, P; Esseni, D; Selmi, L.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Understanding and Optimization of Hot-Carrier Reliability in Germanium-on-Silicon pMOSFETs | 1-gen-2009 | Maji, D; Crupi, Felice; Amat, E; Simoen, E; De Jaeger, B; Brunco, Dp; Manoj, Cr; Rao, Vr; Magnone, P; Giusi, G; Pace, Calogero; Pantisano, L; Mitard, J; Rodriguez, R; Nafria, M. | |
Understanding the Potential and Limitations of Tunnel FETs for Low-Voltage Analog/Mixed-Signal Circuits | 1-gen-2017 | Settino, F; Lanuzza, Marco; Strangio, S; Crupi, Felice; Palestri, P; Esseni, D; Selmi, L. |
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