Electrical Characterization of the Influence of the Annealing Energy Density on Carrier Lifetimes in Germanium

Anno

2016

Appare nelle tipologie:

1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.11770/132882

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo