DE ROSIS, DOMENICO
DE ROSIS, DOMENICO
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Threshold Voltage Instability and Dielectric Breakdown in Flexible Bottom-Gate Ti/Al2O3/IGZO Thin-Film Transistors
2025-01-01 De Rosis, D.; Vatalaro, M.; Maccaronio, V.; Crupi, F.; Munzenrieder, N.; Catania, F.; Corsino, D.; Cantarella, G.; Petti, L.; De Rose, R.
Threshold Voltage Instability in Flexible Bottom-Gate Al2O3/IGZO TFTs
2024-01-01 De Rosis, D.; Vatalaro, M.; Maccaronio, V.; Crupi, F.; Munzenrieder, N.; Catania, F.; Corsino, D.; Cantarella, G.; Petti, L.; De Rose, R.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Threshold Voltage Instability and Dielectric Breakdown in Flexible Bottom-Gate Ti/Al2O3/IGZO Thin-Film Transistors | 1-gen-2025 | De Rosis, D.; Vatalaro, M.; Maccaronio, V.; Crupi, F.; Munzenrieder, N.; Catania, F.; Corsino, D.; Cantarella, G.; Petti, L.; De Rose, R. | |
| Threshold Voltage Instability in Flexible Bottom-Gate Al2O3/IGZO TFTs | 1-gen-2024 | De Rosis, D.; Vatalaro, M.; Maccaronio, V.; Crupi, F.; Munzenrieder, N.; Catania, F.; Corsino, D.; Cantarella, G.; Petti, L.; De Rose, R. |